作者：维尔克斯 时间：2025-2-24 9:52:43
从透过率和反射率的波长特性信息来决定镀膜的薄膜结构时，需要光学薄膜计算软件Essential Macleod。光学薄膜计算软件除薄膜的设计之外，也可以用于模拟改变实验条件时的镀膜的光学特性的变化。光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod虽然是专业用的工具，但是初学者也可以使用这个具有直觉操作特征的光学薄膜设计软件。
日本SigmaKoki西格玛光机可提供由Thin Film Center Inc.开发的光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod，其型号是EMS-1，该软件集成薄膜特性仿真与智能设计功能，具备多重技术优势：内置镀膜材料数据库支持快速建模，自动化算法可精准计算膜系参数，交互式图形界面通过菜单栏/弹窗/多视窗实现便捷操作。该解决方案广泛应用于高精度光学镀膜工程领域，能有效满足抗反射镀层、激光高反镜、光谱分光器件及多层滤光片等多样化设计需求，为光学工程师提供从理论分析到生产实践的全流程技术支持。
日本SigmaKoki西格玛光机光学薄膜计算软件Essential Macleod的注意事项：
- 与其它软件的相互作用有时可能会导致不能运行，推荐使用专用的PC机。
- 价格有时会随汇率，性能的升级等而产生变动，需求时，请联系我们问询。
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技术指标 |
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型号 |
EMS-1 |
〈开发商〉
Thin Film Center Inc.
2745 East Via Rotonda, Tucson, AZ 85716-5227
TEL: +1-520-322-6171 FAX: +1-520-325-8721
※Essential Macleod是Thin Film Center lnc.公司的标志和注册商标。
※Windows®是美国微软公司的注册商标。
- ［Essential Macleod］是关于光学薄膜［THIN-FILM OPTICAL FILTERS（光学薄膜）］等著作的著名作者Angus Macleod开发的Windows®专用的光学薄膜设计软件。
- 光学薄膜计算软件具有丰富的光学薄膜特性的模拟，自动化计算，镀膜材料的数据库等光学薄膜设计中需要的高水准的性能。
以下是光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod的部分功能展示：
光学薄膜特性的模拟：
- 薄膜的透过率和反射率的模拟
- 透过光和反射光相位变化的模拟
- 薄膜厚度的误差影响的模拟
- 群速度分散等的模拟
优化的自动计算：
- 透过率和反射率
- P和S偏光的相位变化
- 透过光和反射光的相位变化
镀膜材料的数据库：
- 主要镀膜材料的光学常数（n·k）的数据库
- 以多种情报为基础的数据库管理
- 从分光特性的实际测量值计算光学常数
- 镀膜材料的色散数据的制作
其他机能：
- 群速度分散的计算
- 薄膜电场分布解析
- 薄膜和玻璃基板组合时的透过率计算
动作环境
- IBM-PC及其兼容机
- MS-Windows®操作系统
- 硬盘的可用容量20MB以上
服务：
从购买之日起1年内支持免费版本升级。超过1年以上时，如果缔结会员合同，则可以继续支持免费版本升级。
选购件：
- 追加授权
（可用在另外一台电脑上运行。）
- 会员合同
（购买1年后，还可以再享受一年免费的服务。）
