M2仪主要满足用户对光束质量，束腰位置，束腰直径，发散角，瑞利长度，腰部对称性以及像散的分析，同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能，包含Excel，World或文本格式导出，方便用户对检测数据进行二次处理。以色列DUMA生产的M2 Beam光束质量分析仪采用刀口式分析的原理，可以实现连续激光（CW）的测量，特殊版本使用CMOS传感器实现脉冲激光的检测，整体覆盖220-2700nm波段，其中脉冲激光可实现220-1600nm的波段覆盖。可配置风冷采样器，实现高功率激光的测量，功率强度提升至4KW，同时实现25mm光束尺寸的接收。M2因子检测以及一般数据测量准确度保持在±5％。
所属品牌： Duma Optronics
负责人：孙工
联系电话：13692216712 电子邮箱：zmsun@welloptics.cn
M2仪分为普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高达4 KW功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
由于Beam Analyzer应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，以色列DUMA公司为用户提供了特殊型号选择，M2Beam-U3-VIS-NIR。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对220-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
以色列DUMA公司提供的M2因子测量仪由七刀口式Beam Analyzer和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M²因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。
M2仪产品规格参数：
-输入光束
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激光质量分析仪 |
M2Beam |
M2Beam U3 |
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技术工艺 |
刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 |
USB 3.0接口 CMOS 2.4MP 内置过滤论 |
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光谱响应（nm） |
SI传感器：350-1100 InGaAs传感器：800-1800 Enhanced InGaAs 传感器：800-2700 |
VIS-NIR：350-1600 UV-NIR：220-1350 |
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激光功率范围 |
Si：100 μW-1 W（带衰减片） InGaAs&UV：100 μW-5 mW HP：4 kW以下 |
10μW-100mW，内置滤光轮 HP：4 kW |
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刀口数 |
7 |
— |
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光束尺寸 |
带透镜高达25mm直径（Si&UV版本） |
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束腰到透镜距离 |
2.0~2.5米最佳 最小2米 |
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-扫描装配附件
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材质 |
铝 |
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透镜焦距 |
300mm（在632.6nm时） |
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透镜直径 |
25mm |
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扫描次数 |
140 |
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最小步进尺寸 |
100μm |
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扫描长度 |
280mm |
-整机
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重量 |
2.5kg |
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尺寸 |
100×173×415 mm |
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托架 |
M6或1/4“固定 |
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机械调整 |
水平角：±1.5°，垂直角：±1.5° |
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电缆长度 |
2.5m |
M2仪产品特点：
-可检测连续激光以及脉冲激光
-独特的断层图像重建技术
-最大25mm光束尺寸测量
-USB3.0接口快速数据传输
-激光质量监控
-可配置采样器，实现高功率激光检测
-即插即用，使用便捷
M2因子测量仪订购信息：
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams
