QCL成像光谱仪LaserScan-XR可用于无接触式硅酮污染检测，Block中红外高光谱相机，10s扫描

美国Block Engineering公司推出了用于无接触式工业硅酮检测的中红外高光谱相机LaserScan-XR。其初代QCL成像光谱仪LaserScan曾荣获光子学创新棱镜奖，而新款LaserScan-XR则在硅胶检测灵敏度上进一步提升。这款中红外高光谱相机采用紧凑的外观设计，能够对硅酮及其他化学物质进行快速、非接触式的成像。

中红外成像光谱仪LaserScan-XR采用Block Engineering专有的量子级联激光（QCL）技术，可获得高质量的中红外光谱图像，使用户能够检测和分析硅酮的存在。由于量子级联激光器成像光谱仪LaserScan-XR使用的是低功率、准直的量子级联激光光束，因此根据具体应用，它可以在距离表面六英寸至数英尺的范围内安全测量表面污染物，实现无接触硅胶检测。

硅酮类材料在工业生产中应用广泛，薄薄的硅酮镀膜可用作模制件生产的脱模剂。硅酮经常被应用于标签和固定装置等表面。它们被用于为织物和纸张提供防水保护。以散装形式使用时，硅酮可用于制造柔韧的密封件、粘合剂和模塑产品。基于硅酮的多元应用，制造商需具备工业硅酮检测能力，以此检测硅胶污染、确认硅酮是否合理涂覆。硅胶污染及多余残留物会对产品造成损害，如漆面的微量硅胶会影响附着力、破坏表面效果，贴合面的硅胶污染物可能引发机械故障；而密封用硅胶粘剂和弹性体也需均匀涂覆才能保障使用功能，因此硅胶检测与测量是工业生产质量控制的关键环节。

Block Engineering QCL成像光谱仪的主要优势：

-宽调谐中红外QCL提供无可比拟的检测灵敏度

-高光谱成像技术可提供像素级的化学信息

-0.5-5米远距离操作，实现远程安全测量

-扫描采集速度快（＜10 秒），提升现场与实验室工作效率

-全程无接触、无需样品前处理、不消耗耗材，降低检测成本与操作复杂度

-适用于科研、安防、制造业、环境检测等多领域，应用场景广泛

-配备人眼安全的红外光束，操作安全性高

-非接触、非侵入式操作，检测过程不会对样品造成破坏

-操作便捷

相较于传统的傅立叶变换红外吸收光谱仪（FTIR）和拉曼光谱检测设备，QCL成像光谱仪LaserScan-XR的能量和检测性能更优，可发射特定波长的更高能量，检测灵敏度和功率密度更高，对硅胶检测的效果更佳。量子级联激光器成像光谱仪LaserSca-XR检测距离远，全程非接触式进行硅胶检测，高光谱相机QCL不会对被测样品造成破坏。

中红外高光谱相机LaserScan-XR的检测技术：

搭载Block Engineering 自主研发的量子级联激光器（QCL）技术，可生成高质量中红外光谱图像，依托中红外光谱检测原理实现硅胶检测——硅胶在中红外光谱拥有独特吸收特征，中红外光从表面反射后，反射光谱会携带硅酮的化学专属信息，结合品牌自研算法，可在数秒内输出实时硅胶检测结果，且硅酮的强吸收特征让痕量污染检测成为可能。在实际工业硅酮检测应用中，中红外成像光谱仪可以在多种表面上检测到硅酮，包括铝板和钢板、塑料、橡胶以及涂漆表面。在下面的光谱图中，中红外高光谱相机在金属表面硅酮检测的极限＞10μg/cm²。

下图展示了中红外高光谱相机在塑料上硅胶的镜面反射光谱计算结果。模拟结果表明，特征性的硅酮峰将在低至1µg/cm²的浓度下产生。这种较低的探测水平（相较于金属）是由于金属与非金属基板介电性能不同而预期的。此外，中红外成像光谱仪这些计算表明激光扫描数据具有坚实的理论基础，这为寻求新技术以应对日益复杂的检测应用的工业用户提供了信心。

Block Engineering量子级联激光器成像光谱仪LaserScan-XR的一个重要功能是能够提供表面的清晰图像以绘制硅酮沉积图。下图是中红外高光谱相机检测的一根手指接触硅胶后留下的指纹，显示在粗糙铝板上留下的图像。

QCL成像光谱仪的这种成像功能使用户能够更快、更全面地扫描表面，以绘制硅酮的存在。因此，它比拭子技术更快且更有效，拭子技术可以识别拭子区域内的硅酮的存在，但无法精确定位硅酮位置。