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日本Oxide的生产能力、生产设备及测量检验能力介绍,如晶体生长的提拉法,熔盐法

作者:维尔克斯  时间:2024-12-12 10:27:09

本文介绍日本Oxide的晶体生产能力与生产设备,以及晶体加工能力、晶体测量检验能力,Oxide的晶体生长设备,晶体生长方法有提拉法、浮区法、熔盐法、垂直布里奇曼法、导膜法和泡生法


-Oxide晶体生产设备和晶体生产能力:

Oxide是世界上唯一拥有所有单晶生长单元(晶体生长方法和晶体生产设备)的公司。

Czochralski (CZ) Pulling Furnaces(提拉法):适用于生长大尺寸晶体,如SLNCLNYBOCLTBBOLGTTeO2YAGYVO4LSOYSO、蓝宝石、隔离晶体。

Floating Zone (FZ) Furnaces(浮区法):适用于生长坩埚中无杂质的高纯晶体/适用于新型晶体YVO4TiO2YIG、隔离晶体的试生长。

Top-Seeded Solution Growth (TSSG) Furnaces(顶部籽晶助熔剂法/熔盐法):适用于生长优质晶体,如CLBOLBOKTKGW

Vertical Bridgeman (VB) Furnaces(垂直布里奇曼法):适用于生长大尺寸晶体,如BSOLGTLGSLNLBO、蓝宝石。

Edge-defined Film-fed Growth (EFG) Furnaces(导膜法):适用于生长形状控制晶体(板状晶体等),如TOYVO 4、蓝宝石。

Kyropulos Furnaces(泡生法):适用于生长适用于大尺寸晶体,失真小的晶体,如高熔点晶体,蓝宝石晶体和隔离晶体。

-晶体加工设备和晶体加工能力:

3英寸晶圆切片机;2英寸晶圆切片机;外径切割机;自动划片机;外圆磨床;平面磨床;研磨抛光机

-Oxide晶体测量检验能力和评估设备:

光度计:吸收光谱的测量。

DSC(差示扫描量热仪):居里温度的测量。

偏光显微镜:晶体中亚晶和夹杂物的检测。

劳厄照相机:晶体取向的测量。

X射线衍射仪:确认晶体取向。

地形图系统:通过二维映射分析晶片缺陷和应变的分布和模式(图像)。

纹影光学系统:亚晶粒存在性检验折射率测量。

Zygo干涉仪:晶片表面粗糙度和内折射率的测量。

折射计:晶体块/晶片折射率和双折射率的测量。

-光学器件和模块生产能力和生产设备:

通风橱;晶圆清洗、电极剥离;掩模对准器;光刻(三阶图案化);溅射设备(用于沉积);薄金属沉积;表面轮廓仪;抗蚀剂膜和金属薄膜的厚度测量;自动线宽测量设备;周期极化电极宽度和占空比的测量;电场极化系统;施加高电场制作周期极化结构;退火炉;周期极化后光学畸变的消除;千级洁净室;激光点焊机;缝焊机;

提供各种工艺和测量方面的主动服务,如下图所示。

-光学器件检验测量能力和评估设备:

寿命测试系统;QPM等非线性变频器件的长期可靠性试验;准相位调制光波导特性测试系统;QPMPPMgLN)波导的相位匹配波长、转换效率和导模分布特性;光学损耗仪;NovaWave TechnologiesInc.LossPro™系统/光学器件损耗的测量(1064532355nm);光热共光路干涉仪;斯坦福大学的PCI-3系统光热解决方案/光学材料和晶片的激光吸收评估;

-深紫外激光器生产能力和生产设备:

深紫外激光显微镜(不提供测量服务);波长计;真空烘箱;频率响应分析仪;光谱分析仪;温度和湿度测试箱;用于环境测试的恒温箱;开发工作台;振动指示器(LDV);日期记录器;现场清洁展位;频谱分析仪;干燥器;CAD;手套箱;微分干涉显微镜;

-飞秒激光微加工能力和加工设备:

Lasea定制的LS5飞秒激光微加工系统:

位置分辨率:1 nm

位置重复性:<0.1 μm

透明材料内部的微加工实现了现有材料/设备的附加功能和增强性能。应用该技术的产品之一是PP-Mg:SLT波导。

微加工服务也可用于透明材料。(取决于材料、尺寸和其他条件。)例如:变频材料、激光材料等。

-散斑及其检验测量能力和评估设备:

通过音叉移动漫射器实现散斑消除:激光照射通过交流电磁铁音叉的运动扩散器。扩散器上的图像通过投影透镜清晰地成像在白色屏幕上。当扩散器停止时,观察到颗粒随机干扰噪声,即所谓的散斑。并且移动,散斑对比度降低到测量系统的检测极限。

激光投影仪/显示器:用1m长的消杂光管测量激光投影仪的对比度。这种激光背投在对比度上超过了传统的液晶电视。

积分球:这个积分球的直径是30厘米。赤道附近港口可安装光源、辐射计、CCD相机等设备。CCD相机的灵敏度可以精确测量。

连通积分球:一个直径为30厘米的球体与另一个直径为20厘米的球体连接,并具有相关的孔径尺寸。两个内部球体的亮度比对应于共享直径与连接孔径的比值。

表面轮廓仪: 表面粗糙度是通过机械触针扫描测量的,以获得表面结构的标准差和相关长度。

测量系统(Agilent Technology: 直流电源、数字万用表和温度控制器。

加工工具:一台木工车床,一台电钻,虎钳和一把电锯。

-组件检验测量能力和评估设备:

激光位移计(非接触式/接触式);晶圆表面缺陷(翘曲、起伏等)的测量,高度测量;显微镜;简易显微镜;精密反射计;反射点的测量;光学元件分析仪;激光源;光功率计;ASE光源;光谱分析仪;波长计;光束分析器;射频频谱分析仪;脉冲模式生成器;函数发生器;阻抗分析仪;示波器;光纤抛光机;环境试验箱系统/恒温试验箱系统;

以上就是Oxide的晶体生产设备,晶体加工设备和他们的晶体生产能力、晶体加工能力、晶体测量检验能力,以及其它的产线的设备和能力的介绍。


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