BeamOn LA U3光斑轮廓分析仪，200万的分辨率，有效探测面积直径60mm（校准直径55mm）的大面积有效探测
所属品牌： Duma Optronics
负责人：孙泽明
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Ø55mm有效探测面积，200万分辨率，350-1150nm波长响应范围的大孔径
以色列DUMA在今年推出了BeamOn LA大孔径光斑分析仪的进阶款BeamOn LA U3光斑轮廓分析仪，它在拥有老款BeamOn LA的大面积的光斑探测基础上，提高了它的分辨率，由原本的40万分辨率提高到了200万的分辨率，同时BeamOn LA U3的探测面积也进一步的加大，由BeamOn LA原本的58x45mm有效探测面积到现在的直径60mm（校准直径55mm）的大面积有效探测，但同时为了平衡价格，避免涨价太多，相对应的降低了BeamOn LA U3的波长响应范围，最大只达到1150nm，让客户在波长范围不大，需要测大光斑并且高分辨率的情况下多一种选择。
BeamOn LA U3光束分析仪主要特点：
-实时光束尺寸分析和高斯拟合
-实时显示光束2D/3D图
-高分辨率（1920x1200pixels）
-大尺寸有效探测面积（Ø60mm,校准Ø55mm）
BeamOn LA U3光束分析仪与 BeamOn LA光束轮廓分析仪对比如下：
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BeamOn LA U3 |
BeamOn LA |
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光谱响应 |
350-1150nm |
350-1310nm |
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分辨率 |
1920 x 1200 |
720 x 576 |
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传感器有效面积（mm） |
Ø60mm(Ø55mm校准) |
58 x 45 |
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增益控制 |
X24 软件控制 |
6dB-60dB 16steps |
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光束分辨率 |
~100μm |
- |
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光束精度 |
±2% |
- |
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帧率Hz |
25fps(min) |
25（max） |
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灵敏度（在633nm波长下）μW/cm2 |
0.1 |
0.1 |
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损伤阈值 |
100W/cm2（连续操作和冷却附件的接触系数） |
100J/cm2（或最高200W/cm2） |
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冷却条件 |
Filtered pressurized air of 6-8 bar |
- |
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最小光束尺寸直径（mm） |
5 |
5 |
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内置滑块衰减片 |
ND8,ND64,ND200, ND400, ND1000 |
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接口 |
USB3.0 |
USB2.0 |
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像素位深 |
12 bits |
- |
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同步性 |
软件 硬件（外部触发信号） |
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功率要求 |
~2W（经过 USB3.0接口） |
2.6W(经过USB2.0接口) |
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重量 |
1.1kg带线 |
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大孔径光束分析仪订货信息：
BeamOn LA U3 VIS-NIR：光谱响应范围350-1150nm，系统包括传感器头，内置滑块一组衰减片，USB3.0，软件和带有操作说明的光盘/U盘，手提箱。
