XP-T-2000系列国产透过率测试仪是一款全波长透过率测试仪，适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。
所属品牌： 维尔克斯光电
负责人：陈工
联系电话：13418906712 电子邮箱：chenpeng@welloptics.cn
国产透过率测试仪，积分球采光，380-1100nm
我们提供的XP-T-2000系列国产透过率测试仪是全波长透过率测试仪，使用透射积分球采光，能够快速测量绝对透过率，并且能实时快速准确地测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率，还可用于实时显示单、多点波长绝对透过率和数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。
系统特点：
我们提供的国产透过率测试仪的适用场景十分广泛，在各种场景都可以使用，并且测量迅速，是可以在毫秒级时间内测量全谱信息的全波长透过率测试仪，并且使用的是积分球采光，可以测量待检测样品的绝对透过率，还可设置检测区间，十分方便。
- 快速全谱测量，可在毫秒级时间内测量全谱信息；
- 可以适应不同实验环境，手套箱、实验室、办公室、车间均可以使用；
- 采用积分球采光，消除由样品折射率、散射等因素引起的误差；
- 软件可设置透过率质检区间，自动判断NGOK等等。
技术参数：
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仪器型号 |
XP-T-2000 |
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检测范围 |
380-1100nm |
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探测器 |
Hamamatsu面阵CCD |
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探测器面积 |
28.672mm*0.896mm |
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像元深度 |
200ke |
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动态范围 |
10000:1 |
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透过率平台 |
光程可调 |
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光斑大小 |
≥0.6mm |
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最小测量孔径 |
>1mm |
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采光方式 |
透射积分球 |
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信噪比（全信号） |
450:01:00 |
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测量重复性 |
优于0.2%（400-1000nm） |
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检出限 |
0.10% |
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单次测量时间 |
<1秒 |
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光源功率 |
0-100W，可调 |
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操作系统/接口 |
Windows7/8/10 |
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电源/功率 |
220V-50Hz/6W |
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光谱软件 |
专用透过率光谱软件，允许用户注释图，能在线实时输出数据，反射兼顾输出CIE颜色参数，自定义打印测试报告； |
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附件 |
备用灯泡2个 |
我们作为集研发、生产、服务于一体的高科技公司，致力于为全球客户提供高端技术产品和服务，拥有多年光谱快速检测经验，为物理光电、功能材料、化学化工、环境科学、食品科学、生命科学、农学等不同领域提供数以百计的测量方案，尤其在QLED、OLED、PLED、MircoLED、LED、量子点发光材料、荧光粉、光色电测量领域获得了丰富的案例，以准为本，客户思维，科技至上，至诚至坚，合作共赢，建设高效、快速为一体测量解决方案。
